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Bianchi, Christophe. Génération fonctionnelle du test de circuits a haute densité d intégration. Thèse. Villeurbanne : Institut National des Sciences Appliquées de Lyon, 1990. Disponible à la Bibliothèque Marie Curie.


Domaine(s) : D18 - Electromagnétisme, Electricité, Electronique
Indice Dewey : 621.395 072
Langue : Français
Mots-clés : CIRCUIT INTEGRE VLSI, ESSAI, QUALITE, FIABILITE, DETECTION DEFAUT, GENERATION AUTOMATIQUE, METHODOLOGIE, APPROCHE FONCTIONNELLE, SIMULATION, ELECTRONIQUE



Directeur(s) de thèse : Chante, Jean-Pierre
Etablissement de soutenance : INSA de Lyon
Etablissement de co-tutelle : LPCA - Laboratoire de composants de puissance et applications - Lyon, INSA
Laboratoire : Institut national des sciences appliquées de Lyon - Lyon, LPCA - Laboratoire de composants de puissance et applications - Lyon, INSA, Partenaire(s) de recherche : LCPA - Laboratoire de Composants de Puissance et Applications
Numéro national de thèse : 1990ISAL0053
Date de soutenance : 1990

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Droits réservés, utilisation gratuite



Résumé français : Ce mémoire de thèse présente une approche innovante dans le domaine de la génération du test de circuits à haute densité d'intégration. Dans le cadre d'un outil de conception de type compilateur de silicium, une méthodologie fonctionnelle de génération du test a été définie, mise en œuvre et validée. Les résultats obtenus prouvent la pertinence de cette méthodologie qui permet d'obtenir des tests efficaces et très adaptés à la validation fonctionnelle de prototypes.


English abstract : This document describes an innovative approach in the field of test generation for high density integrated circuits. In the framework of a silicon compiler design tool, a functional methodology for test generation has been defined, developped and validated. The results obtained show the pertinenc:yof this methodology that gives efficient test patterns adapted to the functional verification of prototypes.